M1 MISTRAL鍍層測厚儀

M1 MISTRAL鍍層測厚儀

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M1 MISTRAL 是一款緊湊型的臺式 μ-XRF 光譜儀,用于分析塊狀材料和涂層。它的操作速度快、極具成本效益, 可以提供與材料元素成分有關的準確信息。

測定鍍層樣品厚度及成分例如

Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Sn-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pd-Ni-Cu


珠寶及合金分析:

M1 MISTRA是珠寶、硬幣及貴金屬的理想分析工具。所有珠寶合金、鉑族金屬及銀制品。不到1分鐘就可以確定其準確成分。分析結果可以用百分含量或K(開)表示。



該儀器具備高空間分辨率,光斑大小低至 100 微米。它可以分析任意形狀的樣品,例如最復雜的珠寶,而無需進一步的制備,更重要的是,它的分析是無損的。支持的樣品尺寸最大可達 100x100x100 立方毫米。帶有交叉十字線的視頻顯微鏡,可以精確定位到您要測量的位置。電動 Z 型取樣臺允許快速聚焦??蛇x的 X-Y-Z 取樣臺甚至可以提供更大的舒適性。

M1 MISTRAL 配備了高亮度微焦點 X 射線管,確保出色的激發測量光斑,產生高熒光效應。憑借功能強大、易于使用的 XSpect 軟件套件,該儀器可交付準確的量化結果,而不論是分析塊狀材料還是最復雜的多層結構。

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